熊本大学工学部附属 工学研究機器センター

Engineering Research Equipment Center

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設置機器一覧

工学研究機器センター4Fの設置機器

走査型蛍光X線分析装置 株式会社リガク ZSX PrimusII

本装置は、物質にX線を照射した際に生じる蛍光X線を測定することで、物質の定性分析をおこなう装置である。ファンダメンタルパラメーター法を用いて半定量分析をおこなうこともできる。上面照射タイプの波長分散型であり、真空雰囲気中でCやNといった軽元素の測定が可能である。また、最小分析径φ0.5mmで分析位置を指定することができる、CCDカメラを搭載している。

機器室名:X線回析室1

管理責任者:渡辺 裕太(技術部)内線:3518

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粉末X線回析装置 株式会社リガク Ultima IV

本装置は粉末試料にX線を入射させて回折角度と強度を測定し、データ処理後ICDDデータベースとの比較を自動検索することによって物質の同定を行うことができる。最大定格出力3kW、最大管電圧50kV、最大管電流50mA。X線管球はCu、Crを備えている。

機器室名:X線回析室1

管理責任者:志田 賢二(技術部)内線:3518

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微小・薄膜X線回折装置 株式会社リガク SmartLab

X線を固体試料に照射したときに生じる回折強度を測定することで、物質の3次元的な結晶構造が決定できる装置である。X線源は高出力(9 kW)な回転対陰極式であり、ゴニオメーターの半径は300 mmで試料水平保持方式であることから、多彩な薄膜材料の評価が可能となっている。またユニットを交換することで、コリメーターを用いた微小部分の測定も可能である。その他、定性分析のためのICDD等のデータベースや解析ソフトも完備している。

機器室名:X線回析室3

管理責任者:佐藤 徹哉(技術部)内線:3879

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ICDD検索システム PDF-4 +2010,PDF-4/Organic 2011

本検索システムは、X線回折解析用の無機物データベース(PDF-4+2010:収録データ数 30万件以上)と有機物データベース(PDF-4/Organic2011:収録データ数 40万件以上)から構成されている。物質名、構成元素、回折ピーク強度などから、物質の回折データ、物理特性、結晶データ、文献情報を検索することができる。

機器室名:X線回析室1

管理責任者:志田 賢二(技術部)内線:3518

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走査型電子顕微鏡 日本電子株式会社 JSM-6390LV

本装置は5インチ径までの大型試料を回転動の併用により全面観察が可能である。高真空・低真空両モード測定が可能であり、低真空モードでは非伝導性試料でも無蒸着で観察ができる。さらに反射電子検出器も備えている。同室内に蒸着装置、凍結乾燥装置が付属している。

機器室名:SEM室

管理責任者:渡辺 裕太(技術部)内線:3518

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凍結乾燥装置 日本電子株式会社 JFD-300


本装置は、SEM用生物試料作製装置である。生物試料を脱水後、t−ブチルアルコールに置換し、凍結乾燥させる。短時間で試料の収縮変形もなく、また多量の試料を比較的室温に近い温度の下で乾燥できる。

機器室名:SEM室

管理責任者:山室 賢輝(技術部)内線:3518

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イオンスパッタリング装置 日本電子株式会社 JFC-1100E


非導電性物質を高真空SEMで観察しようとすると、チャージアップが発生し観察が困難となる。このチャージアップを防止するためのコーティング装置である。非導電性試料にコーティングしたい材料を陰極(ターゲット,本装置は金)として、数Paの低真空中で放電させると生成されたプラスイオンが陰極に入射して、ターゲット材料をスパッタする。この結果、ターゲット材料の金属で試料表面がコーティングされる。

機器室名:SEM室

管理責任者:山室 賢輝(技術部)内線:3518

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分光光度計 株式会社島津製作所 UV-3600

紫外領域から可視・近赤外域(最大範囲:185〜3300nm)までの幅広い測定範囲を持ち、従来多くの分光光度計で採用されていた光電子増倍管(PMT)及び冷却PbS検出器に加えInGaAs検出器を導入することで、近赤外領域での感度は向上している。また、高性能のダブルモノクロメータによって、最高分解が0.1nm、迷光を0.00005%以下(340nmの場合)と高分解かつ低迷光を実現している。
測定できるサンプルとしては、従来の液体に加え、固体(フィルム状や粉末)も測定可能であり、積分球装置の使用によって拡散反射・透過率測定も可能である。

機器室名:分光光度計室

管理責任者:佐藤 徹哉(技術部)内線:3879

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