本装置は、物質にX線を照射した際に生じる蛍光X線を測定することで、物質の定性分析をおこなう装置である。ファンダメンタルパラメーター法を用いて半定量分析をおこなうこともできる。上面照射タイプの波長分散型であり、真空雰囲気中でCやNといった軽元素の測定が可能である。また、最小分析径φ0.5mmで分析位置を指定することができる、CCDカメラを搭載している。

X線回析室1

志田 賢二(技術部)3518

本装置は粉末試料にX線を入射させて回折角度と強度を測定し、データ処理後ICDDデータベースとの比較を自動検索することによって物質の同定を行うことができる。最大定格出力3kW、最大管電圧50kV、最大管電流50mA。Ｘ線管球はCu、Crを備えている。

X線回析室1

志田 賢二(技術部)3518

X線を固体試料に照射したときに生じる回折強度を測定することで、物質の３次元的な結晶構造が決定できる装置である。Ｘ線源は高出力（9 kW）な回転対陰極式であり、ゴニオメーターの半径は300 mmで試料水平保持方式であることから、多彩な薄膜材料の評価が可能となっている。またユニットを交換することで、コリメーターを用いた微小部分の測定も可能である。その他、定性分析のためのICDD等のデータベースや解析ソフトも完備している。

Ｘ線回析室3

佐藤 徹哉(技術部)3879

本検索システムは、X線回折解析用の無機物データベース（PDF-4+2010：収録データ数 30万件以上）と有機物データベース（PDF-4/Organic2011：収録データ数 40万件以上）から構成されている。物質名、構成元素、回折ピーク強度などから、物質の回折データ、物理特性、結晶データ、文献情報を検索することができる。

Ｘ線回析室1

志田 賢二(技術部)3518

3D-CADにより設計したデータを、直接部品として造形することが可能である。造形方式はインクジェット式で、ヘッドから微細な紫外線硬化性の樹脂を噴射し、紫外線を照射することで造形する。
・造形サイズ：297×210×200 mm
・解像度：635×400 dpi
・Z解像度：高分解能・15 μm，標準・20 μm
・入力データファイル形式：STL

X線回析室1

山室 賢輝(技術部)3518

本装置は5インチ径までの大型試料を回転動の併用により全面観察が可能である。高真空・低真空両モード測定が可能であり、低真空モードでは非伝導性試料でも無蒸着で観察ができる。さらに反射電子検出器も備えている。同室内に蒸着装置、凍結乾燥装置が付属している。

SEM室

庄﨑 雅裕(技術部)3518

本装置は、SEM用生物試料作製装置である。生物試料を脱水後、t−ブチルアルコールに置換し、凍結乾燥させる。短時間で試料の収縮変形もなく、また多量の試料を比較的室温に近い温度の下で乾燥できる。

SEM室

庄﨑 雅裕(技術部)3518

非導電性物質を高真空SEMで観察しようとすると、チャージアップが発生し観察が困難となる。このチャージアップを防止するためのコーティング装置である。非導電性試料にコーティングしたい材料を陰極（ターゲット，本装置は金）として、数Paの低真空中で放電させると生成されたプラスイオンが陰極に入射して、ターゲット材料をスパッタする。この結果、ターゲット材料の金属で試料表面がコーティングされる。

SEM室

庄﨑 雅裕(技術部)3518

紫外領域から可視・近赤外域（最大範囲：185〜3300nm）までの幅広い測定範囲を持ち、従来多くの分光光度計で採用されていた光電子増倍管（PMT）及び冷却PbS検出器に加えInGaAs検出器を導入することで、近赤外領域での感度は向上している。また、高性能のダブルモノクロメータによって、最高分解が0.1nm、迷光を0.00005%以下（340nmの場合）と高分解かつ低迷光を実現している。
測定できるサンプルとしては、従来の液体に加え、固体（フィルム状や粉末）も測定可能であり、積分球装置の使用によって拡散反射・透過率測定も可能である。

分光光度計室

佐藤 徹哉(技術部)3879