ULSIバーチャルファクトリー

二次イオン質量分析器 SIMS

電子損失分光装置 HREELS

イオン分光装置

レーザー共焦点顕微鏡 CAISIS

超高真空エッチング装置 UHV etching

X線光電子分光装置 サーモエレクトロン株式会社 SigmaProbe

走査型蛍光X線分析装置 株式会社リガク ZSX PrimusII

粉末Ｘ線回折装置 株式会社リガク Ultima IV

微小・薄膜X線回折装置 株式会社リガク SmartLab

ICDD検索システム PDF-4 +2016

3Dプリンタ 株式会社キーエンス アジリスタ3110

分光光度計 株式会社島津製作所 UV-3600

走査型電子顕微鏡 日本電子株式会社 JSM-6390LV

凍結乾燥装置 日本電子株式会社 JFD-300

イオンスパッタリング装置 日本電子株式会社 JFC-1100E

電子線マイクロアナライザ 株式会社島津製作所 EPMA-1720H

断面イオンミリング 株式会社日立ハイテクノロジーズ E-3500

実体顕微鏡 株式会社ライカマイクロシステムズ M205C

自動研磨装置 ビューラー メタザーブ250 + ベクトルLC250

精密切断機 ビューラー アイソメット

プラズマクリーナー YHS-R

金スパッタリング・カーボン蒸着装置 株式会社日立ハイテクノロジーズ E-1010

ユニバーサルズーム顕微鏡 株式会社ニコンインステック MULTIZOOM AZ100

集束イオンビーム (Focused Ion Beam) 株式会社日立ハイテクノロジーズ NB5000

電界放出型走査電子顕微鏡 日本電子株式会社 JSM-7600F

透過型電子顕微鏡 FEI TECNAI F20

透過型電子顕微鏡 日本電子株式会社 JEM-2100plus